find similar
5/5(1)
Note de la boutique
≤2h
Temps de réponse
≥100%
Taux de livraison dans les délais
20%
Taux de réachat

Marchés principaux: États-Unis d'Amérique, Turquie (Türkiye), Corée du Sud, Inde, Argentine

Dispositif de test de scan IC 24 DIP (0,300'', 7,62 mm) BUFF 24 DIP SN74BCT8244ANTG4 Composant électronique Puce BOM IC En stock Logique

Aucun avis pour l'instant
0,6866 €
1-3 000 pièce
0,3478 €
≥3 001 pièce
Spécification
Code de date de fabrication

Caractéristiques

Marque nom

Original

Référence fabricant

SN74BCT8244ANTG4

Type de montage

Traversant (Through Hole)

Point d'origine

China

Type

Composant et pièce

Série

Logique

Shipping
Select shipping

Protection des commandes Alibaba.com

Paiements sécurisés

Chaque paiement que vous effectuez sur Alibaba.com est sécurisé par un cryptage SSL strict et des protocoles de protection des données PCI DSS.

Protection de remboursement

Demandez un remboursement si votre commande n'est pas expédiée, est introuvable ou arrive avec des problèmes liés au produit

Paiement & Financement

Payez en 4X sans frais avec

Caractéristiques du produit

Marque nom
Original
Référence fabricant
SN74BCT8244ANTG4
Type de montage
Traversant (Through Hole)
Point d'origine
China
Type
Composant et pièce
Série
Logique
Description
Dispositif de test de scan IC, buffer 24 broches DIP
Type de conditionnement
Tube
Application
Logique spécialisée
Package/Boîte
24 DIP (0,300", 7,62 mm)
Caractéristiques
Composants électroniques
Type de sortie
Norme
Type logique
Dispositif de test Scan avec tampons
Nombre de bits
8

Emballage et livraison

vente Unités
Article unique
seul paquet taille
1X1X1 cm
unique poids brut
0.100 kg

Délai de préparation de la commande

Description des produits par le fournisseur

Avertissement/Disclaimer
California Proposition 65 Avis aux consommateurs