Prix des sondes de mode de contact AFM pour microscope à force atomique
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Attributs
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Henan, ChinaPoint d'origine
AFM1000Numéro de Type
NANBEIMarque nom
Sondes de microscope à force atomique en mode contact afm prixNom du produit
Mode de travail:FM-Tapping, contact facultatif, frottement, phase etc
Taille:90mm/20mm
Gamme de numérisation:20 mmin XYdirection,2mm dans la direction Z
Résolution de numérisation:0.2nm dans la direction XY, 0.05nm dans la direction Z
Movementrange de l'échantillon:± 6.5mm
Largeur d'impulsion des approches du moteur:10 ± 2ms
Point d'échantillonnage d'image:256x256,512x512
Grossissement optique:4X
Angle de balayage:0 ° ~ 360 °
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