Microscope de mesure électronique de laboratoire, scanner numérique afm pour microscope atomique, force

Name: Microscope de mesure électronique de laboratoire, scanner numérique afm pour microscope atomique, force
Brand: Nanbei Instrument Limited
SKU: 60293299577
Price: 18000 USD
Availability: InStock

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Nanbei Instrument Limited

13 ans

Attributs

X/Y: 0,2 nm, Z: 0,05 nmRésolution de lu0027appareil photo

OuiAppui externe d'affichage

Mise Au Point automatiqueType de foyer

Microscope de microscopie de force atomiqueType

Henan, ChinaPoint d'origine

± 10dAjustement dioptrique

Numéro de Type:FM-Nanoview 1000

Marque nom:NANBEI

Étalonnage:Calibrage automatique

Support personnalisé:OEM

Distance de focalisation:25 mm

Garantie:1 année

Design de logo/graphique:Impression numérique

Nom:Microscope de microscopie de force atomique d'afm numérique d'électron de balayage de laboratoire

Modes d'opération:Mode de contact, mode de taraudage

Taille de l'échantillon:Diamètre≤ 90mm;H≤ 20mm

Gamme Max. scan:X/Y: 20um, Z: 2 um

Résolution:X/Y: 0,2 nm, Z: 0,05 nm

Angle de balayage:0 ~ 360 °

Mouvement de l'échantillon:± 6.5mm

Largeur d'impulsion du moteur approchant:10 ± 2 ms

Interface de communication:USB2.0

Système courant:Windows98/2000/XP/7/8

Packaging Details:Boîtier en bois prix de la microscopie à balayage afm à force atomique tout-en-un

vente Unités:Article unique

seul paquet taille:40X45X50 cm

unique poids brut:30.000 kg

Service

Des pièces de rechange gratuites

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Caractéristiques du produit

Résolution de lu0027appareil photo

X/Y: 0,2 nm, Z: 0,05 nm

Appui externe d'affichage

Oui

Type de foyer

Mise Au Point automatique

Type

Microscope de microscopie de force atomique

Point d'origine

Henan, China

Ajustement dioptrique

± 10d

Numéro de Type

FM-Nanoview 1000

Marque nom

NANBEI

Étalonnage

Calibrage automatique

Support personnalisé

OEM

Distance de focalisation

25 mm

Garantie

1 année

Design de logo/graphique

Impression numérique

Nom

Microscope de microscopie de force atomique d'afm numérique d'électron de balayage de laboratoire

Modes d'opération

Mode de contact, mode de taraudage

Taille de l'échantillon

Diamètre≤ 90mm;H≤ 20mm

Gamme Max. scan

X/Y: 20um, Z: 2 um

Résolution

X/Y: 0,2 nm, Z: 0,05 nm

Angle de balayage

0 ~ 360 °

Mouvement de l'échantillon

± 6.5mm

Largeur d'impulsion du moteur approchant

10 ± 2 ms

Interface de communication

USB2.0

Système courant

Windows98/2000/XP/7/8

Emballage et livraison

Packaging Details

Boîtier en bois prix de la microscopie à balayage afm à force atomique tout-en-un

vente Unités

Article unique

seul paquet taille

40X45X50 cm

unique poids brut

30.000 kg

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Quantité (jeu)	1 - 1	> 1
Durée estimée (jours)	15	À négocier