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Microscope de mesure électronique de laboratoire, scanner numérique afm pour microscope atomique, force

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17 786,10 €
1-9 jeu
16 007,49 €
≥10 jeu

Grossissement de loculaire

4x

Grossissement

40x

Grossissement de lobjectif

60x

Caractéristiques

Résolution de la caméra

X/Y: 0,2 nm, Z: 0,05 nm

Type

Microscope de microscopie de force atomique

Type de foyer

Mise Au Point automatique

Ajustement dioptrique

± 10d

Appui externe d'affichage

Oui

Numéro de modèle

FM-Nanoview 1000

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Service

Pièces de rechange gratuites et assistance technique en ligne
Pièces de rechange gratuites et assistance technique en ligne

Caractéristiques du produit

Type
Microscope de microscopie de force atomique
Type de foyer
Mise Au Point automatique
Distance de focalisation
25 mm
Ajustement dioptrique
± 10d
Étalonnage
Calibrage automatique
Résolution de la caméra
X/Y: 0,2 nm, Z: 0,05 nm
Appui externe d'affichage
Oui
Garantie commerciale
1 année
Support personnalisé
OEM
Design de logo/graphique
Impression numérique
Numéro de modèle
FM-Nanoview 1000
Nom de marque
NANBEI
Lieu dorigine
Henan, China
Nom
Microscope de microscopie de force atomique d'afm numérique d'électron de balayage de laboratoire
Modes d'opération
Mode de contact, mode de taraudage
Taille de l'échantillon
Diamètre≤ 90mm;H≤ 20mm
Gamme Max. scan
X/Y: 20um, Z: 2 um
Résolution
X/Y: 0,2 nm, Z: 0,05 nm
Angle de balayage
0 ~ 360 °
Mouvement de l'échantillon
± 6.5mm
Largeur d'impulsion du moteur approchant
10 ± 2 ms
Interface de communication
USB2.0
Système courant
Windows98/2000/XP/7/8

Emballage et livraison

Packaging Details
Boîtier en bois prix de la microscopie à balayage afm à force atomique tout-en-un
vente Unités
Article unique
seul paquet taille
40X45X50 cm
unique poids brut
30.000 kg

Délai de préparation de la commande

Description des produits par le fournisseur