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Circuit intégré logique Logic IC SCAN TEST DEV/TXRX 64 LQFP Original, Service complet, 64 LQFP SN74ABTH182646APM, Composants électroniques Chine

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20-159 pièce
9,26 €
≥160 pièce

Spécification

SN74ABTH182646APM

Code de date de fabrication

NEUF

Caractéristiques

Marque nom

Original

Référence fabricant

SN74ABTH182646APM

Type de montage

Montage en surface

Point d'origine

China

Type

Composant et pièce

Série

Logique

Expédition

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Caractéristiques du produit

Marque nom
Original
Référence fabricant
SN74ABTH182646APM
Type de montage
Montage en surface
Point d'origine
China
Type
Composant et pièce
Série
Logique
Description
Circuit intégré de test de scan DEV/TXRX 64 LQFP
Type de conditionnement
En vrac, Plateau
Application
Logique spécialisée
Package/Boîte
64 LQFP
Caractéristiques
Composant électronique
Type de sortie
Norme
Type logique
Dispositif de test de scan avec émetteurs-récepteurs et registres
Nombre de bits
18

Emballage et livraison

vente Unités
Article unique
seul paquet taille
1X1X1 cm
unique poids brut
0.1 kg

Délai de préparation de la commande

Description des produits par le fournisseur

Avertissement/Disclaimer
California Proposition 65 Avis aux consommateurs