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Système d'inspection des défauts de wafer PrimaScan, équipement de métrologie semi-conductrice, inspection des motifs

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238,03 €
Quantité minimale : 5 000 pièce
Spécification

Caractéristiques

Vidéo de détection de faille

Oui

Origine

Amérique

Personnalisation du traitement

non

Numéro de pièce

1

Importé ou non

non

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autre

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Caractéristiques du produit

Vidéo de détection de faille
Oui
Origine
Amérique
Personnalisation du traitement
non
Numéro de pièce
1
Importé ou non
non
Spécification
autre
modèle
PrimaScan
Champ d'application
largement
marque
Sur
Numéro de commande
1

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vente Unités
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