All categories

Featured selections

Trade Assurance

Buyer Central

Help Center

Get the app

Become a supplier

Characterisation

(200 produits disponibles)

Vin Grappa FALED's Prime 700ml 40% d'alcool, goût aromatique, raisins Di Castello, qualité d'exportation, bouteille vieillie - Product Image 1

Vin Grappa FALED's Prime 700ml 40% d'alcool, goût aromatique, raisins Di Castello, qualité d'exportation, bouteille vieillie - Product Image 2

Vin Grappa FALED's Prime 700ml 40% d'alcool, goût aromatique, raisins Di Castello, qualité d'exportation, bouteille vieillie - Product Image 3

Vin Grappa FALED's Prime 700ml 40% d'alcool, goût aromatique, raisins Di Castello, qualité d'exportation, bouteille vieillie

6,08-6,53 €

MOQ: 5

Vin Grappa italien Prime 700 ml 40 % d'alcool, goût aromatique, raisins Di Castello, qualité d'exportation, bouteille vieillie - Product Image 1

Vin Grappa italien Prime 700 ml 40 % d'alcool, goût aromatique, raisins Di Castello, qualité d'exportation, bouteille vieillie - Product Image 2

Vin Grappa italien Prime 700 ml 40 % d'alcool, goût aromatique, raisins Di Castello, qualité d'exportation, bouteille vieillie - Product Image 3

Vin Grappa italien Prime 700 ml 40 % d'alcool, goût aromatique, raisins Di Castello, qualité d'exportation, bouteille vieillie

6,08-6,53 €

MOQ: 5

Fabriqué en Italie Di Castello Grappa 40% d'alcool Distillats Goût du vin avec un goût aromatique 700ml - Product Image 1

Fabriqué en Italie Di Castello Grappa 40% d'alcool Distillats Goût du vin avec un goût aromatique 700ml - Product Image 2

Fabriqué en Italie Di Castello Grappa 40% d'alcool Distillats Goût du vin avec un goût aromatique 700ml - Product Image 3

Fabriqué en Italie Di Castello Grappa 40% d'alcool Distillats Goût du vin avec un goût aromatique 700ml

6,08-6,53 €

MOQ: 5

Système de caractérisation des semi-conducteurs Keithley 4200-SCS, unité principale non modulaire - Product Image 1

Système de caractérisation des semi-conducteurs Keithley 4200-SCS, unité principale non modulaire - Product Image 2

Système de caractérisation des semi-conducteurs Keithley 4200-SCS, unité principale non modulaire - Product Image 3

Système de caractérisation des semi-conducteurs Keithley 4200-SCS, unité principale non modulaire - Product Image 4

Système de caractérisation des semi-conducteurs Keithley 4200-SCS, unité principale non modulaire

13 680,09 €

MOQ: 1

Instrument de mesure électronique Keysight N5245BV, amplificateur de signal modulé large bande, caractérisation - Product Image 1

Instrument de mesure électronique Keysight N5245BV, amplificateur de signal modulé large bande, caractérisation - Product Image 2

Instrument de mesure électronique Keysight N5245BV, amplificateur de signal modulé large bande, caractérisation - Product Image 3

Instrument de mesure électronique Keysight N5245BV, amplificateur de signal modulé large bande, caractérisation - Product Image 4

Instrument de mesure électronique Keysight N5245BV, amplificateur de signal modulé large bande, caractérisation - Product Image 5

Instrument de mesure électronique Keysight N5245BV, amplificateur de signal modulé large bande, caractérisation

86 092,40 €

MOQ: 1

Synthèse et caractérisation structurelle de poudre de nanotubes de carbone multi-parois à 99,98 % de pureté, disponible en OEM, série TI-MWCNT - Product Image 1

Synthèse et caractérisation structurelle de poudre de nanotubes de carbone multi-parois à 99,98 % de pureté, disponible en OEM, série TI-MWCNT - Product Image 2

Synthèse et caractérisation structurelle de poudre de nanotubes de carbone multi-parois à 99,98 % de pureté, disponible en OEM, série TI-MWCNT - Product Image 3

Synthèse et caractérisation structurelle de poudre de nanotubes de carbone multi-parois à 99,98 % de pureté, disponible en OEM, série TI-MWCNT

0,7835 €

MOQ: 1

Carte FPGA Xilinx EFR-DI-IMG-CHAR-SITE pour la Caractérisation d'Images et de Sites, Composants Électroniques Spécialisés et Autres Circuits Intégrés (ICs) - Product Image 1

Carte FPGA Xilinx EFR-DI-IMG-CHAR-SITE pour la Caractérisation d'Images et de Sites, Composants Électroniques Spécialisés et Autres Circuits Intégrés (ICs) - Product Image 2

Carte FPGA Xilinx EFR-DI-IMG-CHAR-SITE pour la Caractérisation d'Images et de Sites, Composants Électroniques Spécialisés et Autres Circuits Intégrés (ICs) - Product Image 3

Carte FPGA Xilinx EFR-DI-IMG-CHAR-SITE pour la Caractérisation d'Images et de Sites, Composants Électroniques Spécialisés et Autres Circuits Intégrés (ICs) - Product Image 4

Carte FPGA Xilinx EFR-DI-IMG-CHAR-SITE pour la Caractérisation d'Images et de Sites, Composants Électroniques Spécialisés et Autres Circuits Intégrés (ICs) - Product Image 5

Carte FPGA Xilinx EFR-DI-IMG-CHAR-SITE pour la Caractérisation d'Images et de Sites, Composants Électroniques Spécialisés et Autres Circuits Intégrés (ICs) - Product Image 6

Carte FPGA Xilinx EFR-DI-IMG-CHAR-SITE pour la Caractérisation d'Images et de Sites, Composants Électroniques Spécialisés et Autres Circuits Intégrés (ICs)

1,87-3,74 €

MOQ: 360

N9000b Analyseur de signaux 26.5 GHz Instrument de caractérisation de signaux de base - Product Image 1

N9000b Analyseur de signaux 26.5 GHz Instrument de caractérisation de signaux de base - Product Image 2

N9000b Analyseur de signaux 26.5 GHz Instrument de caractérisation de signaux de base - Product Image 3

N9000b Analyseur de signaux 26.5 GHz Instrument de caractérisation de signaux de base - Product Image 4

N9000b Analyseur de signaux 26.5 GHz Instrument de caractérisation de signaux de base - Product Image 5

N9000b Analyseur de signaux 26.5 GHz Instrument de caractérisation de signaux de base

68 873,92 €

MOQ: 1