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Force atomique

(68 produits disponibles)

Contrôle du mécanisme de marche de la kinésine et de la dyneine Prédiction du repliement des protéines avec dynamique moléculaire et force de tous les atomes - Product Image 1

Contrôle du mécanisme de marche de la kinésine et de la dyneine Prédiction du repliement des protéines avec dynamique moléculaire et force de tous les atomes - Product Image 2

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Contrôle du mécanisme de marche de la kinésine et de la dyneine Prédiction du repliement des protéines avec dynamique moléculaire et force de tous les atomes - Product Image 6

Contrôle du mécanisme de marche de la kinésine et de la dyneine Prédiction du repliement des protéines avec dynamique moléculaire et force de tous les atomes

8,56 €

Commande minimum: 1 unité

Convertisseur de fréquence 600V 3P 7,5kW Série C2000 VFD075C53A-21 à contrôle vectoriel, efficacité 98%, refroidissement par air forcé, IP20 intégré - Product Image 1

Convertisseur de fréquence 600V 3P 7,5kW Série C2000 VFD075C53A-21 à contrôle vectoriel, efficacité 98%, refroidissement par air forcé, IP20 intégré - Product Image 2

Convertisseur de fréquence 600V 3P 7,5kW Série C2000 VFD075C53A-21 à contrôle vectoriel, efficacité 98%, refroidissement par air forcé, IP20 intégré - Product Image 3

Convertisseur de fréquence 600V 3P 7,5kW Série C2000 VFD075C53A-21 à contrôle vectoriel, efficacité 98%, refroidissement par air forcé, IP20 intégré - Product Image 4

Convertisseur de fréquence 600V 3P 7,5kW Série C2000 VFD075C53A-21 à contrôle vectoriel, efficacité 98%, refroidissement par air forcé, IP20 intégré - Product Image 5

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Convertisseur de fréquence 600V 3P 7,5kW Série C2000 VFD075C53A-21 à contrôle vectoriel, efficacité 98%, refroidissement par air forcé, IP20 intégré

308,05-335,43 €

Commande minimum: 5 pièces

Outil de diagnostic de camion X truck X005 Plus pour la régénération forcée du filtre à particules diesel (DPF) pour SHACMAN WEICHAI SINOTRUK CNHTC Howo DongFeng FAW - Product Image 1

Outil de diagnostic de camion X truck X005 Plus pour la régénération forcée du filtre à particules diesel (DPF) pour SHACMAN WEICHAI SINOTRUK CNHTC Howo DongFeng FAW - Product Image 2

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Outil de diagnostic de camion X truck X005 Plus pour la régénération forcée du filtre à particules diesel (DPF) pour SHACMAN WEICHAI SINOTRUK CNHTC Howo DongFeng FAW

Commande minimum: 1 sac

Nouveau timon OTT-JAKOB d'origine 95.103.222.1.0 Transmission de la force de rétention de précision pour broche CNC - Product Image 1

Nouveau timon OTT-JAKOB d'origine 95.103.222.1.0 Transmission de la force de rétention de précision pour broche CNC - Product Image 2

Nouveau timon OTT-JAKOB d'origine 95.103.222.1.0 Transmission de la force de rétention de précision pour broche CNC - Product Image 3

Nouveau timon OTT-JAKOB d'origine 95.103.222.1.0 Transmission de la force de rétention de précision pour broche CNC - Product Image 4

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Nouveau timon OTT-JAKOB d'origine 95.103.222.1.0 Transmission de la force de rétention de précision pour broche CNC

2 224,75-2 481,45 €

Commande minimum: 1 pièce

Microscope à Force Atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'analyseur de paramètres de semi-conducteur d'imagerie en temps réel - Product Image 1

Microscope à Force Atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'analyseur de paramètres de semi-conducteur d'imagerie en temps réel - Product Image 2

Microscope à Force Atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'analyseur de paramètres de semi-conducteur d'imagerie en temps réel - Product Image 3

Microscope à Force Atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'analyseur de paramètres de semi-conducteur d'imagerie en temps réel - Product Image 4

Microscope à Force Atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'analyseur de paramètres de semi-conducteur d'imagerie en temps réel - Product Image 5

Microscope à Force Atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'analyseur de paramètres de semi-conducteur d'imagerie en temps réel - Product Image 6

Microscope à Force Atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'analyseur de paramètres de semi-conducteur d'imagerie en temps réel

85,57-427,84 €

Commande minimum: 2 unités

Microscope à force atomique et PCBA de détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse pour l'imagerie en temps réel - Product Image 1

Microscope à force atomique et PCBA de détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse pour l'imagerie en temps réel - Product Image 2

Microscope à force atomique et PCBA de détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse pour l'imagerie en temps réel - Product Image 3

Microscope à force atomique et PCBA de détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse pour l'imagerie en temps réel - Product Image 4

Microscope à force atomique et PCBA de détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse pour l'imagerie en temps réel - Product Image 5

Microscope à force atomique et PCBA de détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse pour l'imagerie en temps réel - Product Image 6

Microscope à force atomique et PCBA de détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse pour l'imagerie en temps réel

85,57-427,84 €

Commande minimum: 2 unités

Système de scopie ultrasonique picoseconde pour la mesure de l'épaisseur de la couche atomique Scope de force atomique Nanoscope optique intégré - Product Image 1

Système de scopie ultrasonique picoseconde pour la mesure de l'épaisseur de la couche atomique Scope de force atomique Nanoscope optique intégré - Product Image 2

Système de scopie ultrasonique picoseconde pour la mesure de l'épaisseur de la couche atomique Scope de force atomique Nanoscope optique intégré - Product Image 3

Système de scopie ultrasonique picoseconde pour la mesure de l'épaisseur de la couche atomique Scope de force atomique Nanoscope optique intégré - Product Image 4

Système de scopie ultrasonique picoseconde pour la mesure de l'épaisseur de la couche atomique Scope de force atomique Nanoscope optique intégré - Product Image 5

Système de scopie ultrasonique picoseconde pour la mesure de l'épaisseur de la couche atomique Scope de force atomique Nanoscope optique intégré - Product Image 6

Système de scopie ultrasonique picoseconde pour la mesure de l'épaisseur de la couche atomique Scope de force atomique Nanoscope optique intégré

5,14-5,99 €

Commande minimum: 6 unités

Scopie ultrasonique picoseconde pour l'inspection des couches minces Scope à force atomique Nanoscope optique intégré Cryo tomographie électronique - Product Image 1

Scopie ultrasonique picoseconde pour l'inspection des couches minces Scope à force atomique Nanoscope optique intégré Cryo tomographie électronique - Product Image 2

Scopie ultrasonique picoseconde pour l'inspection des couches minces Scope à force atomique Nanoscope optique intégré Cryo tomographie électronique - Product Image 3

Scopie ultrasonique picoseconde pour l'inspection des couches minces Scope à force atomique Nanoscope optique intégré Cryo tomographie électronique - Product Image 4

Scopie ultrasonique picoseconde pour l'inspection des couches minces Scope à force atomique Nanoscope optique intégré Cryo tomographie électronique - Product Image 5

Scopie ultrasonique picoseconde pour l'inspection des couches minces Scope à force atomique Nanoscope optique intégré Cryo tomographie électronique - Product Image 6

Scopie ultrasonique picoseconde pour l'inspection des couches minces Scope à force atomique Nanoscope optique intégré Cryo tomographie électronique

2,57-3,43 €

Commande minimum: 3 unités