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Characterisation

(494 produits disponibles)

Solution de caractérisation de dispositifs actifs Keysight N5245BM jusqu'à 50 GHz pour la 5G - Product Image 1

Solution de caractérisation de dispositifs actifs Keysight N5245BM jusqu'à 50 GHz pour la 5G - Product Image 2

Solution de caractérisation de dispositifs actifs Keysight N5245BM jusqu'à 50 GHz pour la 5G - Product Image 3

Solution de caractérisation de dispositifs actifs Keysight N5245BM jusqu'à 50 GHz pour la 5G - Product Image 4

Solution de caractérisation de dispositifs actifs Keysight N5245BM jusqu'à 50 GHz pour la 5G - Product Image 5

Solution de caractérisation de dispositifs actifs Keysight N5245BM jusqu'à 50 GHz pour la 5G

869 807,66 €

quantité minimum: 1 pièce

HK HUAXIN INSTRUMENT LIMITED

1 yrs

Analyseur de cellules par fluorescence automatisé nanoentek ADAMII LS pour la recherche sur les cellules souches, la caractérisation des cellules primaires et les tests du cycle cellulaire - Product Image 1

Analyseur de cellules par fluorescence automatisé nanoentek ADAMII LS pour la recherche sur les cellules souches, la caractérisation des cellules primaires et les tests du cycle cellulaire - Product Image 2

Analyseur de cellules par fluorescence automatisé nanoentek ADAMII LS pour la recherche sur les cellules souches, la caractérisation des cellules primaires et les tests du cycle cellulaire - Product Image 3

Analyseur de cellules par fluorescence automatisé nanoentek ADAMII LS pour la recherche sur les cellules souches, la caractérisation des cellules primaires et les tests du cycle cellulaire - Product Image 4

Analyseur de cellules par fluorescence automatisé nanoentek ADAMII LS pour la recherche sur les cellules souches, la caractérisation des cellules primaires et les tests du cycle cellulaire - Product Image 5

Analyseur de cellules par fluorescence automatisé nanoentek ADAMII LS pour la recherche sur les cellules souches, la caractérisation des cellules primaires et les tests du cycle cellulaire - Product Image 6

Analyseur de cellules par fluorescence automatisé nanoentek ADAMII LS pour la recherche sur les cellules souches, la caractérisation des cellules primaires et les tests du cycle cellulaire

34 792,48-60 886,84 €

quantité minimum: 1 jeu

1 yrs

KR

Solution de caractérisation de dispositifs actifs Keysight N5247BM jusqu'à 67 GHz, d'occasion - Product Image 1

Solution de caractérisation de dispositifs actifs Keysight N5247BM jusqu'à 67 GHz, d'occasion - Product Image 2

Solution de caractérisation de dispositifs actifs Keysight N5247BM jusqu'à 67 GHz, d'occasion

8 698,99 €

quantité minimum: 1 pièce

HK HUAXIN INSTRUMENT LIMITED

1 yrs

Solution de caractérisation de dispositifs actifs Keysight N5247BM jusqu'à 67 GHz - Product Image 1

Solution de caractérisation de dispositifs actifs Keysight N5247BM jusqu'à 67 GHz - Product Image 2

Solution de caractérisation de dispositifs actifs Keysight N5247BM jusqu'à 67 GHz - Product Image 3

Solution de caractérisation de dispositifs actifs Keysight N5247BM jusqu'à 67 GHz - Product Image 4

Solution de caractérisation de dispositifs actifs Keysight N5247BM jusqu'à 67 GHz

8 684,21 €

quantité minimum: 1 pièce

HK HUAXIN INSTRUMENT LIMITED

1 yrs

1 système de caractérisation de semi-conducteurs Keithley 4200-SCS, non modulaire - Product Image 1

1 système de caractérisation de semi-conducteurs Keithley 4200-SCS, non modulaire - Product Image 2

1 système de caractérisation de semi-conducteurs Keithley 4200-SCS, non modulaire

14 765,06 €

quantité minimum: 1 pièce

HK HUAXIN INSTRUMENT LIMITED

1 yrs

Analyseur de paramètres de semi-conducteurs Unité de mesure de source PCBA avec faible bruit et haute précision pour la caractérisation avancée des appareils - Product Image 1

Analyseur de paramètres de semi-conducteurs Unité de mesure de source PCBA avec faible bruit et haute précision pour la caractérisation avancée des appareils - Product Image 2

Analyseur de paramètres de semi-conducteurs Unité de mesure de source PCBA avec faible bruit et haute précision pour la caractérisation avancée des appareils - Product Image 3

Analyseur de paramètres de semi-conducteurs Unité de mesure de source PCBA avec faible bruit et haute précision pour la caractérisation avancée des appareils - Product Image 4

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Analyseur de paramètres de semi-conducteurs Unité de mesure de source PCBA avec faible bruit et haute précision pour la caractérisation avancée des appareils - Product Image 6

Analyseur de paramètres de semi-conducteurs Unité de mesure de source PCBA avec faible bruit et haute précision pour la caractérisation avancée des appareils

86,99-434,91 €

quantité minimum: 2 unités

INTELLISENSE TECHNOLOGY

19 yrs

IN

Microsphères de polystyrène non revêtues suspendues, latex PS monodispersé pour la caractérisation des milieux poreux et la recherche sur les matériaux de base - Product Image 1

Microsphères de polystyrène non revêtues suspendues, latex PS monodispersé pour la caractérisation des milieux poreux et la recherche sur les matériaux de base - Product Image 2

Microsphères de polystyrène non revêtues suspendues, latex PS monodispersé pour la caractérisation des milieux poreux et la recherche sur les matériaux de base - Product Image 3

Microsphères de polystyrène non revêtues suspendues, latex PS monodispersé pour la caractérisation des milieux poreux et la recherche sur les matériaux de base - Product Image 4

Microsphères de polystyrène non revêtues suspendues, latex PS monodispersé pour la caractérisation des milieux poreux et la recherche sur les matériaux de base - Product Image 5

Microsphères de polystyrène non revêtues suspendues, latex PS monodispersé pour la caractérisation des milieux poreux et la recherche sur les matériaux de base - Product Image 6

Microsphères de polystyrène non revêtues suspendues, latex PS monodispersé pour la caractérisation des milieux poreux et la recherche sur les matériaux de base

17,40-19,14 €

quantité minimum: 5 millilitres

Bailun Biotechnology Co., Limited

1 yrs

HK

Station de sonde cryogénique PCBA pour la caractérisation de Qubit Lecture de détecteur de matière noire PCBA pour la physique des particules - Product Image 1

Station de sonde cryogénique PCBA pour la caractérisation de Qubit Lecture de détecteur de matière noire PCBA pour la physique des particules - Product Image 2

Station de sonde cryogénique PCBA pour la caractérisation de Qubit Lecture de détecteur de matière noire PCBA pour la physique des particules - Product Image 3

Station de sonde cryogénique PCBA pour la caractérisation de Qubit Lecture de détecteur de matière noire PCBA pour la physique des particules - Product Image 4

Station de sonde cryogénique PCBA pour la caractérisation de Qubit Lecture de détecteur de matière noire PCBA pour la physique des particules - Product Image 5

Station de sonde cryogénique PCBA pour la caractérisation de Qubit Lecture de détecteur de matière noire PCBA pour la physique des particules - Product Image 6

Station de sonde cryogénique PCBA pour la caractérisation de Qubit Lecture de détecteur de matière noire PCBA pour la physique des particules

86,12-347,06 €

quantité minimum: 99 pièces

INTELLISENSE TECHNOLOGY

3 yrs

IN