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Le microscope à force atomique

(91 produits disponibles)

Microscope à force atomique Veeco DEKTAK SXM, VENT RAK - Équipement et pièces semi-conductrices de renommée mondiale - Product Image 1

Microscope à force atomique Veeco DEKTAK SXM, VENT RAK - Équipement et pièces semi-conductrices de renommée mondiale - Product Image 2

Microscope à force atomique Veeco DEKTAK SXM, VENT RAK - Équipement et pièces semi-conductrices de renommée mondiale - Product Image 3

Microscope à force atomique Veeco DEKTAK SXM, VENT RAK - Équipement et pièces semi-conductrices de renommée mondiale - Product Image 4

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Microscope à force atomique Veeco DEKTAK SXM, VENT RAK - Équipement et pièces semi-conductrices de renommée mondiale - Product Image 6

Microscope à force atomique Veeco DEKTAK SXM, VENT RAK - Équipement et pièces semi-conductrices de renommée mondiale

88,31 €

quantité minimum: 1 pièce

1 yrs

KR

Microscope à Force Atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'analyseur de paramètres de semi-conducteur d'imagerie en temps réel - Product Image 1

Microscope à Force Atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'analyseur de paramètres de semi-conducteur d'imagerie en temps réel - Product Image 2

Microscope à Force Atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'analyseur de paramètres de semi-conducteur d'imagerie en temps réel - Product Image 3

Microscope à Force Atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'analyseur de paramètres de semi-conducteur d'imagerie en temps réel - Product Image 4

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Microscope à Force Atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'analyseur de paramètres de semi-conducteur d'imagerie en temps réel - Product Image 6

Microscope à Force Atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'analyseur de paramètres de semi-conducteur d'imagerie en temps réel

88,31-441,53 €

quantité minimum: 2 unités

INTELLISENSE TECHNOLOGY

19 yrs

IN

Microscope à force atomique et PCBA de détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse pour l'imagerie en temps réel - Product Image 1

Microscope à force atomique et PCBA de détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse pour l'imagerie en temps réel - Product Image 2

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Microscope à force atomique et PCBA de détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse pour l'imagerie en temps réel

87,43-352,34 €

quantité minimum: 99 pièces

INTELLISENSE TECHNOLOGY

3 yrs

IN

Contrôleur de microscope à force atomique Quantum Hall Standard Intellisense PCBA FR4 certifié ISO9001, précision 00001ppb, sub-angstrom - Product Image 1

Contrôleur de microscope à force atomique Quantum Hall Standard Intellisense PCBA FR4 certifié ISO9001, précision 00001ppb, sub-angstrom - Product Image 2

Contrôleur de microscope à force atomique Quantum Hall Standard Intellisense PCBA FR4 certifié ISO9001, précision 00001ppb, sub-angstrom - Product Image 3

Contrôleur de microscope à force atomique Quantum Hall Standard Intellisense PCBA FR4 certifié ISO9001, précision 00001ppb, sub-angstrom - Product Image 4

Contrôleur de microscope à force atomique Quantum Hall Standard Intellisense PCBA FR4 certifié ISO9001, précision 00001ppb, sub-angstrom - Product Image 5

Contrôleur de microscope à force atomique Quantum Hall Standard Intellisense PCBA FR4 certifié ISO9001, précision 00001ppb, sub-angstrom - Product Image 6

Contrôleur de microscope à force atomique Quantum Hall Standard Intellisense PCBA FR4 certifié ISO9001, précision 00001ppb, sub-angstrom

1,77-17,67 €

quantité minimum: 25 unités

INTELLISENSE TECHNOLOGY

19 yrs

IN

Système de test d'immunité Surveillance et contrôle sur le terrain PCBA Microscope à force atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA - Product Image 1

Système de test d'immunité Surveillance et contrôle sur le terrain PCBA Microscope à force atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA - Product Image 2

Système de test d'immunité Surveillance et contrôle sur le terrain PCBA Microscope à force atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA - Product Image 3

Système de test d'immunité Surveillance et contrôle sur le terrain PCBA Microscope à force atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA - Product Image 4

Système de test d'immunité Surveillance et contrôle sur le terrain PCBA Microscope à force atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA - Product Image 5

Système de test d'immunité Surveillance et contrôle sur le terrain PCBA Microscope à force atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA - Product Image 6

Système de test d'immunité Surveillance et contrôle sur le terrain PCBA Microscope à force atomique Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA

87,43-352,34 €

quantité minimum: 99 pièces

INTELLISENSE TECHNOLOGY

3 yrs

IN

Microscope à force atomique PCBA de surveillance et de contrôle Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'imagerie en temps réel - Product Image 1

Microscope à force atomique PCBA de surveillance et de contrôle Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'imagerie en temps réel - Product Image 2

Microscope à force atomique PCBA de surveillance et de contrôle Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'imagerie en temps réel - Product Image 3

Microscope à force atomique PCBA de surveillance et de contrôle Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'imagerie en temps réel - Product Image 4

Microscope à force atomique PCBA de surveillance et de contrôle Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'imagerie en temps réel - Product Image 5

Microscope à force atomique PCBA de surveillance et de contrôle Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'imagerie en temps réel - Product Image 6

Microscope à force atomique PCBA de surveillance et de contrôle Détection de déviation en porte-à-faux à grande vitesse PCBA pour l'imagerie en temps réel

87,43-352,34 €

quantité minimum: 99 pièces

INTELLISENSE TECHNOLOGY

3 yrs

IN

OPTO-EDU A62.4503 Nouveau <span class=keywords><strong>microscope</strong></span> électronique <span class=keywords><strong>à</strong></span> balayage <span class=keywords><strong>à</strong></span> <span class=keywords><strong>force</strong></span> <span class=keywords><strong>atomique</strong></span> de recherche en laboratoire - Product Image 1

OPTO-EDU A62.4503 Nouveau <span class=keywords><strong>microscope</strong></span> électronique <span class=keywords><strong>à</strong></span> balayage <span class=keywords><strong>à</strong></span> <span class=keywords><strong>force</strong></span> <span class=keywords><strong>atomique</strong></span> de recherche en laboratoire - Product Image 2

OPTO-EDU A62.4503 Nouveau <span class=keywords><strong>microscope</strong></span> électronique <span class=keywords><strong>à</strong></span> balayage <span class=keywords><strong>à</strong></span> <span class=keywords><strong>force</strong></span> <span class=keywords><strong>atomique</strong></span> de recherche en laboratoire - Product Image 3

OPTO-EDU A62.4503 Nouveau <span class=keywords><strong>microscope</strong></span> électronique <span class=keywords><strong>à</strong></span> balayage <span class=keywords><strong>à</strong></span> <span class=keywords><strong>force</strong></span> <span class=keywords><strong>atomique</strong></span> de recherche en laboratoire - Product Image 4

OPTO-EDU A62.4503 Nouveau microscope électronique à balayage à force atomique de recherche en laboratoire

25 166,73-31 318,89 €

quantité minimum: 1 pièce

Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.

18 yrs

CN

<span class=keywords><strong>Microscope</strong></span> <span class=keywords><strong>à</strong></span> <span class=keywords><strong>Force</strong></span> <span class=keywords><strong>atomique</strong></span>, pour laboratoire, 1 unité - Product Image 1

<span class=keywords><strong>Microscope</strong></span> <span class=keywords><strong>à</strong></span> <span class=keywords><strong>Force</strong></span> <span class=keywords><strong>atomique</strong></span>, pour laboratoire, 1 unité - Product Image 2

<span class=keywords><strong>Microscope</strong></span> <span class=keywords><strong>à</strong></span> <span class=keywords><strong>Force</strong></span> <span class=keywords><strong>atomique</strong></span>, pour laboratoire, 1 unité - Product Image 3

<span class=keywords><strong>Microscope</strong></span> <span class=keywords><strong>à</strong></span> <span class=keywords><strong>Force</strong></span> <span class=keywords><strong>atomique</strong></span>, pour laboratoire, 1 unité - Product Image 4

<span class=keywords><strong>Microscope</strong></span> <span class=keywords><strong>à</strong></span> <span class=keywords><strong>Force</strong></span> <span class=keywords><strong>atomique</strong></span>, pour laboratoire, 1 unité - Product Image 5

<span class=keywords><strong>Microscope</strong></span> <span class=keywords><strong>à</strong></span> <span class=keywords><strong>Force</strong></span> <span class=keywords><strong>atomique</strong></span>, pour laboratoire, 1 unité - Product Image 6

Microscope à Force atomique, pour laboratoire, 1 unité

21 193,04-25 608,25 €

quantité minimum: 1 jeu

Nanbei Instrument Limited

14 yrs

CN