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Circuit intégré IC SCAN TEST DEV/TXRX 28 SSOP Logic 28 BSSOP (0,295 po, largeur 7,50 mm) Distributeur agréé SN74ABT8543DL - Product Image 1

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Circuit intégré IC SCAN TEST DEV/TXRX 28 SSOP Logic 28 BSSOP (0,295 po, largeur 7,50 mm) Distributeur agréé SN74ABT8543DL - Product Image 6

Circuit intégré IC SCAN TEST DEV/TXRX 28 SSOP Logic 28 BSSOP (0,295 po, largeur 7,50 mm) Distributeur agréé SN74ABT8543DL

2,87-5,73 €

quantité minimum: 33 pièces

UNITE CHANCE CO., LIMITED

1 yrs

HK

28 SOIC (0,295 po, largeur 7,50 mm) En stock SN74ABT8646DW Composants électroniques Fabricant CI logique SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC - Product Image 1

28 SOIC (0,295 po, largeur 7,50 mm) En stock SN74ABT8646DW Composants électroniques Fabricant CI logique SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC - Product Image 2

28 SOIC (0,295 po, largeur 7,50 mm) En stock SN74ABT8646DW Composants électroniques Fabricant CI logique SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC - Product Image 3

28 SOIC (0,295 po, largeur 7,50 mm) En stock SN74ABT8646DW Composants électroniques Fabricant CI logique SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC - Product Image 4

28 SOIC (0,295 po, largeur 7,50 mm) En stock SN74ABT8646DW Composants électroniques Fabricant CI logique SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC - Product Image 5

28 SOIC (0,295 po, largeur 7,50 mm) En stock SN74ABT8646DW Composants électroniques Fabricant CI logique SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC - Product Image 6

28 SOIC (0,295 po, largeur 7,50 mm) En stock SN74ABT8646DW Composants électroniques Fabricant CI logique SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC

2,37-4,73 €

quantité minimum: 40 pièces

UNITE CHANCE CO., LIMITED

1 yrs

HK

Composants Électroniques Logiques 64 LQFP IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP SN74ABTH18502APM Original Service Complet - Product Image 1

Composants Électroniques Logiques 64 LQFP IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP SN74ABTH18502APM Original Service Complet - Product Image 2

Composants Électroniques Logiques 64 LQFP IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP SN74ABTH18502APM Original Service Complet - Product Image 3

Composants Électroniques Logiques 64 LQFP IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP SN74ABTH18502APM Original Service Complet - Product Image 4

Composants Électroniques Logiques 64 LQFP IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP SN74ABTH18502APM Original Service Complet - Product Image 5

Composants Électroniques Logiques 64 LQFP IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP SN74ABTH18502APM Original Service Complet - Product Image 6

Composants Électroniques Logiques 64 LQFP IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP SN74ABTH18502APM Original Service Complet

10,94-11,08 €

quantité minimum: 17 pièces

UNITE CHANCE CO., LIMITED

1 yrs

HK

28 circuits intégrés CLCC SNJ54BCT8245AFK, puces logiques IC, dispositifs de test SCAN avec bus octal, référence IC en stock - Product Image 1

28 circuits intégrés CLCC SNJ54BCT8245AFK, puces logiques IC, dispositifs de test SCAN avec bus octal, référence IC en stock - Product Image 2

28 circuits intégrés CLCC SNJ54BCT8245AFK, puces logiques IC, dispositifs de test SCAN avec bus octal, référence IC en stock - Product Image 3

28 circuits intégrés CLCC SNJ54BCT8245AFK, puces logiques IC, dispositifs de test SCAN avec bus octal, référence IC en stock - Product Image 4

28 circuits intégrés CLCC SNJ54BCT8245AFK, puces logiques IC, dispositifs de test SCAN avec bus octal, référence IC en stock - Product Image 5

28 circuits intégrés CLCC SNJ54BCT8245AFK, puces logiques IC, dispositifs de test SCAN avec bus octal, référence IC en stock - Product Image 6

28 circuits intégrés CLCC SNJ54BCT8245AFK, puces logiques IC, dispositifs de test SCAN avec bus octal, référence IC en stock

0,372-0,7439 €

quantité minimum: 1 pièce

UNITE CHANCE CO., LIMITED

1 yrs

HK

64 TSSOP (0,240'', largeur 6,10 mm) Service complet d'origine IC SCAN TEST DEV/XCVR 64 TSSOP Logic SN74LVTH182512DGGR - Product Image 1

64 TSSOP (0,240'', largeur 6,10 mm) Service complet d'origine IC SCAN TEST DEV/XCVR 64 TSSOP Logic SN74LVTH182512DGGR - Product Image 2

64 TSSOP (0,240'', largeur 6,10 mm) Service complet d'origine IC SCAN TEST DEV/XCVR 64 TSSOP Logic SN74LVTH182512DGGR - Product Image 3

64 TSSOP (0,240'', largeur 6,10 mm) Service complet d'origine IC SCAN TEST DEV/XCVR 64 TSSOP Logic SN74LVTH182512DGGR - Product Image 4

64 TSSOP (0,240'', largeur 6,10 mm) Service complet d'origine IC SCAN TEST DEV/XCVR 64 TSSOP Logic SN74LVTH182512DGGR - Product Image 5

64 TSSOP (0,240'', largeur 6,10 mm) Service complet d'origine IC SCAN TEST DEV/XCVR 64 TSSOP Logic SN74LVTH182512DGGR - Product Image 6

64 TSSOP (0,240'', largeur 6,10 mm) Service complet d'origine IC SCAN TEST DEV/XCVR 64 TSSOP Logic SN74LVTH182512DGGR

2,79-5,15 €

quantité minimum: 1 pièce

UNITE CHANCE CO., LIMITED

1 yrs

HK

SN74LVTH18504APMR IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP 64 LQFP Circuits Intégrés Puce Logique Originale - Product Image 1

SN74LVTH18504APMR IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP 64 LQFP Circuits Intégrés Puce Logique Originale - Product Image 2

SN74LVTH18504APMR IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP 64 LQFP Circuits Intégrés Puce Logique Originale - Product Image 3

SN74LVTH18504APMR IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP 64 LQFP Circuits Intégrés Puce Logique Originale - Product Image 4

SN74LVTH18504APMR IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP 64 LQFP Circuits Intégrés Puce Logique Originale - Product Image 5

SN74LVTH18504APMR IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP 64 LQFP Circuits Intégrés Puce Logique Originale - Product Image 6

SN74LVTH18504APMR IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP 64 LQFP Circuits Intégrés Puce Logique Originale

3,23-5,40 €

quantité minimum: 1 pièce

UNITE CHANCE CO., LIMITED

1 yrs

HK

Analyseur de peau professionnel, système de simulation 3D et de diagnostic en nuage, appareil de test cutané - Product Image 1

Analyseur de peau professionnel, système de simulation 3D et de diagnostic en nuage, appareil de test cutané - Product Image 2

Analyseur de peau professionnel, système de simulation 3D et de diagnostic en nuage, appareil de test cutané - Product Image 3

Analyseur de peau professionnel, système de simulation 3D et de diagnostic en nuage, appareil de test cutané - Product Image 4

Analyseur de peau professionnel, système de simulation 3D et de diagnostic en nuage, appareil de test cutané - Product Image 5

Analyseur de peau professionnel, système de simulation 3D et de diagnostic en nuage, appareil de test cutané - Product Image 6

Analyseur de peau professionnel, système de simulation 3D et de diagnostic en nuage, appareil de test cutané

884,69-1 238,91 €

quantité minimum: 1 jeu

Hipdeer Technology Limited

2 yrs

Caméra industrielle CMOS à balayage de zone haute vitesse CA-H500M CA-H500C CA-H500MX CA-H500CX pour systèmes de vision industrielle et automatisation d'inspection - Product Image 1

Caméra industrielle CMOS à balayage de zone haute vitesse CA-H500M CA-H500C CA-H500MX CA-H500CX pour systèmes de vision industrielle et automatisation d'inspection - Product Image 2

Caméra industrielle CMOS à balayage de zone haute vitesse CA-H500M CA-H500C CA-H500MX CA-H500CX pour systèmes de vision industrielle et automatisation d'inspection - Product Image 3

Caméra industrielle CMOS à balayage de zone haute vitesse CA-H500M CA-H500C CA-H500MX CA-H500CX pour systèmes de vision industrielle et automatisation d'inspection - Product Image 4

Caméra industrielle CMOS à balayage de zone haute vitesse CA-H500M CA-H500C CA-H500MX CA-H500CX pour systèmes de vision industrielle et automatisation d'inspection - Product Image 5

Caméra industrielle CMOS à balayage de zone haute vitesse CA-H500M CA-H500C CA-H500MX CA-H500CX pour systèmes de vision industrielle et automatisation d'inspection - Product Image 6

Caméra industrielle CMOS à balayage de zone haute vitesse CA-H500M CA-H500C CA-H500MX CA-H500CX pour systèmes de vision industrielle et automatisation d'inspection

1 106,96-1 301,79 €

quantité minimum: 1 pièce

MINGXING TECHNOLOGY CO., LIMITED

2 yrs